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Static behavior of stud connectors in bi-direction push-off tests

Autor(en):




Medium: Fachartikel
Sprache(n): Englisch
Veröffentlicht in: Thin-Walled Structures, , v. 120
Seite(n): 307-318
DOI: 10.1016/j.tws.2017.09.011
Structurae kann Ihnen derzeit diese Veröffentlichung nicht im Volltext zur Verfügung stellen. Der Volltext ist beim Verlag erhältlich über die DOI: 10.1016/j.tws.2017.09.011.
  • Über diese
    Datenseite
  • Reference-ID
    10383091
  • Veröffentlicht am:
    23.11.2019
  • Geändert am:
    23.11.2019
 
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