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Spannungsfaktoren für die Bemessung punktgestützter Verglasungen

Autor(en):

Medium: Fachartikel
Sprache(n): Deutsch
Veröffentlicht in: Stahlbau, , n. 9, v. 81
Seite(n): 719-727
DOI: 10.1002/stab.201201601
Abstrakt:

Die Bemessung punktgestützter Verglasungen gehörte bisher zu den größeren Herausforderungen im konstruktiven Glasbau, da die eingeführten technischen Baubestimmungen hierfür kein allgemeingültiges Bemessungsverfahren zur Verfügung stellten. Das statische System einer elastisch gelagerten, punktförmig gestützten Platte wurde daher auf Basis der Finiten-Elemente-Methode (FEM) numerisch simuliert, größtenteils mit spezialisierter und kostspieliger Software. Die neue DIN 18008-3 [1] beschreibt im Anhang C erstmalig ein allgemeines Verfahren zur Bemessung punktgestützter Verglasungen, die durch Tellerhalter gelagert sind. Das Verfahren wird vereinfachtes Verfahren genannt und basiert auf der Aufteilung des Gesamtproblems in lokale und globale Bereiche nach dem Prinzip von St. Venant. Für den Spannungsnachweis im lokalen Bereich werden Spannungsfaktoren zur Umrechnung der Auflagerreaktionen in lokale Spannungsanteile genutzt. Dieser Beitrag beschreibt die Herleitung der Spannungsfaktoren auf analytischem Weg und liefert damit eine konsequente Weiterentwicklung des vereinfachten Verfahrens.

Stichwörter:
vereinfachtes Verfahren SLG-Methode Punkthalter
Verfügbar bei: Siehe Verlag
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    Datenseite
  • Reference-ID
    10067642
  • Veröffentlicht am:
    29.03.2013
  • Geändert am:
    30.09.2018