The SAMgram: a novel local enhancement and targeted extraction strategy for weak bearing fault characteristics

Autor(en):	Zuhua Jiang (Beijing Engineering Research Center of Precision Measurement Technology and Instruments, Beijing University of Technology, Beijing, China) Kun Zhang (Beijing Engineering Research Center of Precision Measurement Technology and Instruments, Beijing University of Technology, Beijing, China) Xiangfeng Zhang (School of Mechanical Engineering, Xinjiang University, Urumqi, China) Chaoyong Ma (Beijing Engineering Research Center of Precision Measurement Technology and Instruments, Beijing University of Technology, Beijing, China) Yonggang Xu (Beijing Engineering Research Center of Precision Measurement Technology and Instruments, Beijing University of Technology, Beijing, China)
Medium:	Fachartikel
Sprache(n):	Englisch
Veröffentlicht in:	Structural Health Monitoring
DOI:	10.1177/14759217241309311

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