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Generalized method for identifying yield-line patterns in T-stubs using discontinuity layout optimization

Diese Veröffentlichung wurde in 6 anderen Veröffentlichung(en) zitiert:

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  • Reference-ID
    10623861
  • Veröffentlicht am:
    26.08.2021
  • Geändert am:
    26.08.2021
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