Failure simulation of RC structures under highly dynamic conditions using random lattice models
| Autor(en): |
Kunhwi Kim
John E. Bolander Yun Mook Lim |
|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | Computers & Structures, September 2013, v. 125 |
| Seite(n): | 127-136 |
| DOI: | 10.1016/j.compstruc.2013.04.007 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10283647 - Veröffentlicht am:
05.01.2019 - Geändert am:
05.01.2019
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