Experimental investigation on interfacial defect detection for SCCS with conventional and novel contact NDT techniques
| Autor(en): |
Hongbing Chen
Gokarna Chalise Shiyu Gan Xin Nie
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|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | Smart Materials and Structures, 30 August 2023, n. 10, v. 32 |
| Seite(n): | 105026 |
| DOI: | 10.1088/1361-665x/acf015 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10734217 - Veröffentlicht am:
03.09.2023 - Geändert am:
25.09.2023
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