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Development of metric models to predict annoyance due to tonal office noise

Autor(en): ORCID (Ray W. Herrick Lab, Purdue University, West Lafayette, Indiana, USA)
(Ray W. Herrick Lab, Purdue University, West Lafayette, Indiana, USA)
(Ray W. Herrick Lab, Purdue University, West Lafayette, Indiana, USA)
Medium: Fachartikel
Sprache(n): Englisch
Veröffentlicht in: Science and Technology for the Built Environment, , n. 8, v. 28
Seite(n): 1-15
DOI: 10.1080/23744731.2022.2096974
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  • Über diese
    Datenseite
  • Reference-ID
    10689617
  • Veröffentlicht am:
    13.08.2022
  • Geändert am:
    23.09.2022
 
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