Defect sensitivity of single-crystal nano-sized Cu beams
Autor(en): |
Solveig Melin
Per Hansson Aylin Ahadi |
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Medium: | Fachartikel |
Sprache(n): | Englisch |
Veröffentlicht in: | Procedia Structural Integrity, 2016, v. 2 |
Seite(n): | 1351-1358 |
DOI: | 10.1016/j.prostr.2016.06.172 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10641815 - Veröffentlicht am:
17.02.2022 - Geändert am:
17.02.2022