Coupled field modeling of E/M impedance of piezoelectric wafer active sensor for cataphoretic coating thickness measurement

Autor(en):	T. Kamas M. Tekkalmaz
Medium:	Fachartikel
Sprache(n):	Englisch
Veröffentlicht in:	Smart Materials and Structures, April 2017, n. 4, v. 26
Seite(n):	045035
DOI:	10.1088/1361-665x/aa63e2

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